Главная Новости Клиенты Заявка Вакансии Сертификаты Статьи Контакты
Ремонт ноутбуков
В последнее время большое распространение среди компаний и частных лиц получили ноутбуки.
Абонентское обслуживание
Как часто происходят моменты, когда из-за сбоев в...
Удаленный ремонт
Порой возникают проблемы с компьютерной или организационной техникой...

ABBYY обновила сканер визиток для iPhone

29.03.2014

Спустя три месяца после релиза приложения для iOS, Business Card Reader 4.0, компания ABBYY обновила его, добавив ряд принципиальных многофункциональных особенностей. Напомним, что этот продукт предназначен для автоматического переноса данных с визитных карточек в адресную книжку телефона. Для этого употребляется камера iPhone и система оптического определения текста ABBYY.

ABBYY обновила сканер визиток для iPhone

В ABBYY Business Card Reader 4.0 появилась функция «Визитница», представляющая собой архив отсканированных визитных карточек и в освеженной версии программки, получившей порядковый номер 4.5, она была усовершенствована. К примеру, находить данные и сортировать изображения в этом разделе сейчас можно не только лишь по имени и фамилии контакта, наименованию компании и дате прибавления, да и по почтовому адресу либо наименованию городка. Не считая того, для использования данных с изображения визитки из архива «Визитница» довольно надавить на кнопки — «звонок на номер», «отправка письма», «отправка смс», «поиск адреса», «переход на сайт». Ранее вести взаимодействие с контентом из архива было нельзя.

ABBYY обновила сканер визиток для iPhone

Поработала ABBYY и над локализацией продукта. Кроме российского, германского, французского, итальянского и испанского языка появилась поддержка португальского. Хотя, есть в обновлении и один неоднозначный момент. Начиная с версии 4.5, приложение ABBYY Business Card Reader нацелено лишь на телефоны Apple iPhone 3GS и iPhone 4. От поддержки более ранешних iOS-продуктов Apple компания отказалась. Программка уже доступна для загрузки в App Store. Ее цена составляет $5 (40 грн).

Яндекс.Метрика